傳感單元:內(nèi)置雙軸 MEMS / 電容式傾角傳感器,X、Y 軸傳感元件物理正交、剛性集成,確保兩軸測量基準嚴格垂直。
同步采樣:采用同一時鐘源對 X、Y 軸進行同步 A/D 轉換,采樣間隔≤5 秒,保證兩軸數(shù)據(jù)時間戳完1全一致。
實時解算:內(nèi)置高速處理器,對雙軸原始信號同步濾波、校準、解算,輸出實時雙軸角度值(角秒 /°/mm/m)。
基準統(tǒng)一:雙軸共享同1絕1對水平基準面,測量結果可直接反映平面二維傾斜狀態(tài),而非兩個獨立單軸數(shù)據(jù)的簡單拼接。
雙軸同步測量范圍:0.0000° ~ ±2.0000°(±7200 角秒)
單軸獨立測量范圍:0.0000° ~ ±4.0000°(±14400 角秒)
核心精度區(qū)間(0~1080 角秒):±1 角秒;其余區(qū)間:±3 角秒
分辨率:1 角秒(≤5μm/M)
同步采樣率:≤5 秒 / 次(雙軸數(shù)據(jù)同時刷新)
軸間正交度:≤±5 角秒(兩軸測量基準嚴格垂直)
數(shù)據(jù)一致性:雙軸數(shù)據(jù)無時間偏移,同一時刻輸出完整二維傾角向量
數(shù)字顯示:彩色 TFT 屏同時顯示 X 軸、Y 軸角度值(角秒 /°/mm/m 可選),數(shù)值實時同步刷新。
圖形顯示(Smart 2D Bubble):
核心為二維 “牛眼" 靶心圖,X、Y 軸偏差以矢量箭頭 / 色塊同步呈現(xiàn)。
靶心中心 =絕1對水平;箭頭指向 =傾斜方向;箭頭長度 =傾斜大小。
支持自動縮放,微小偏差(≤10 角秒)也清晰可見。
狀態(tài)指示:同步顯示測量模式(雙軸 / 單軸)、單位、電池、藍牙 / USB 連接狀態(tài)。
開機默認進入雙軸同步測量模式,一鍵切換單軸 / 雙軸。
相對置零:雙軸同步置零,設定自定義水平基準,適配非絕1對水平安裝面。
數(shù)據(jù)保持:雙軸數(shù)據(jù)同步鎖定,便于記錄與對比。
USB 2.0:雙軸數(shù)據(jù)實時同步上傳至 PC,采樣率與儀器一致。
工業(yè)藍牙(BLE):≤30 米無線傳輸,雙軸數(shù)據(jù)無延遲同步,支持單人遠程操作。
移動 App(Digi-Pas Level Mobile):手機 / 平板同步顯示雙軸數(shù)據(jù) + 2D 圖形,遠程監(jiān)控與調(diào)試。
輸出格式:Excel/CSV,包含時間戳、X 軸角度、Y 軸角度、振動值(同步記錄)。
PC 軟件(Digi-Pas Level Professional):
雙軸實時曲線:X、Y 軸數(shù)據(jù)同屏同步繪制,直觀觀察傾斜變化趨勢。
3D 表面輪廓:多點雙軸同步測量數(shù)據(jù),自動擬合平面 3D 形貌,分析平面度 / 直線度。
| 對比維度 | 傳統(tǒng)單軸水平儀 | DWL-8500XY 雙軸同步測量 | 優(yōu)勢價值 |
|---|---|---|---|
| 測量方式 | 先測 X→調(diào)整→再測 Y→調(diào)整,反復迭代 | X/Y 軸同時測量、同時顯示,一次完成 | 效率提升70%+,調(diào)試時間大幅縮短 |
| 誤差來源 | 兩軸測量不同步,引入時間 / 空間累積誤差 | 雙軸同點、同時、同基準測量,無累積誤差 | 精度提升1 個數(shù)量級,數(shù)據(jù)更可靠 |
| 平面判斷 | 需人工拼接兩軸數(shù)據(jù),無法直觀判斷平面狀態(tài) | 2D 圖形 + 數(shù)字同步呈現(xiàn),一眼掌握平面水平 | 操作門檻降低,減少人為誤判 |
| 調(diào)試效率 | 大型設備調(diào)試需2 人配合、數(shù)小時 / 天 | 單人操作、數(shù)分鐘 / 小時完成 | 人力成本降低50%+,設備稼動率提升 |
| 數(shù)據(jù)完整性 | 單軸數(shù)據(jù),無法反映二維平面特性 | 雙軸同步數(shù)據(jù),完整描述平面二維傾斜 | 支持3D 輪廓分析、平面度評估 |
應用:晶圓臺、反應腔室、拋光平臺雙軸同步調(diào)平。
價值:±1 角秒精度,將傾斜控制在 **≤0.001°;雙軸同步測量使維護時間縮短 40%,晶圓報廢率下降 60%**。
應用:床身、導軌、工作臺雙軸同步水平校準。
價值:8 米工作臺調(diào)試從2 天→4 小時,效率提升75%;消除單軸反復測量誤差,加工件尺寸一致性顯著提高。
應用:光學平臺、激光干涉儀、坐標測量機雙軸同步對準。
價值:確保設備基準嚴格水平 / 垂直,測量結果可追溯、可重復,支撐納米級科研與檢測。
應用:高鐵軌道、航空結構件、精密平臺多點雙軸同步測量。
價值:同步采集 X/Y 軸數(shù)據(jù),快速擬合 3D 表面輪廓,精準評估平面度 / 直線度,替代傳統(tǒng)繁瑣檢測流程。
安裝基準:儀器底面與被測面緊密貼合,采用三點支撐,避免 “蹺蹺板" 效應。
同步置零:在基準平面執(zhí)行雙軸同步置零,確保測量基準統(tǒng)一。
環(huán)境控制:測量時避開強振動、強磁場、溫度驟變,減少對雙軸傳感的干擾。
數(shù)據(jù)記錄:使用同步數(shù)據(jù)輸出,確保 X/Y 軸數(shù)據(jù)時間戳一致,便于后續(xù)分析。
定期校準:按JQA/NIST標準進行雙軸同步校準,保證長期精度穩(wěn)定性。
原理革新:從 “串行單軸測量" 升級為 “并行雙軸同步測量",從源頭消除累積誤差。
效率革命:單人、單次、實時完成平面二維測量,調(diào)試效率數(shù)倍提升。
精度保障:1 角秒級雙軸同步精度,滿足半導體、高1端制造、科研等微米 / 納米級精度需求。
數(shù)據(jù)完整:雙軸同步數(shù)據(jù)為3D 輪廓分析、平面度評估、工藝追溯提供完整數(shù)據(jù)基礎。